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艾諾 AN87310艾諾Ainuo AN87310 高精度單相功率計(jì)
UT582/UT585/UT586/UT582+優(yōu)利德UT582/UT585/T586漏電保護(hù)開(kāi)關(guān)測(cè)試儀
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產(chǎn)品中心測(cè)試系統(tǒng)致茂測(cè)試系統(tǒng)
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致茂58604雷射二極體燒機(jī)及可靠性測(cè)試系統(tǒng) 可提供燒機(jī)測(cè)試，信賴性測(cè)試與老化測(cè)試 支持自動(dòng)電流控制模式（ACC）與自動(dòng)功率控制模式（APC） 個(gè)別通道（Channel）驅(qū)動(dòng)與量測(cè) 每個(gè)通道可供應(yīng)達(dá)500mA的電流 達(dá)125℃ 的精確溫度控制 個(gè)別模組（module）獨(dú)立操作
更新時(shí)間：2024-11-29
產(chǎn)品型號(hào)：58604
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致茂Chroma 58620 激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī) 全自動(dòng)化檢測(cè)邊射型激光半導(dǎo)體芯片 高精密及高容量載具設(shè)計(jì) 自動(dòng)光纖耦合測(cè)試對(duì)位設(shè)計(jì)（Auto-alignment） AOI輔助定位，加速測(cè)試時(shí)間 共用載具設(shè)計(jì)可搭配燒機(jī)測(cè)試
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：58620瀏覽量：905
致茂Chroma 7940 晶圓檢測(cè)系統(tǒng) 可同時(shí)檢測(cè)正反兩面晶圓 大可檢測(cè)6吋擴(kuò)膜晶圓（檢測(cè)區(qū)域達(dá)8吋范圍 ） 可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測(cè)項(xiàng)目 上片后晶圓自動(dòng)對(duì)位機(jī)制
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：7940瀏覽量：1214
Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng) 58635-L光電組件晶圓LIV點(diǎn)測(cè)系統(tǒng) 58635-N光電組件近場(chǎng)量測(cè)點(diǎn)測(cè)系統(tǒng) 58635-F光電組件遠(yuǎn)場(chǎng)量測(cè)點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：58635-L/N/F瀏覽量：1347
54100/54130/54180致冷芯片溫度控制器 54100致冷芯片溫度控制器 54130-27-12致冷芯片控制器 300W 54180-40-20致冷芯片控制器 800W
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：54100/54130/54180瀏覽量：1040